導電粒子顯微鏡產品介紹
應用領域：LCD液晶、導電粒子、彩色濾光片、手機屏幕、FPD模組、半導體晶圓片、FPC、PCB IC封裝、光盤CD、 圖像傳感器CCD、 CMOS、PDA等。
光源：采用3W 高亮度LED落射和透射照明裝置。
物鏡：高清晰平場熒光物鏡。
偏光：主機內含有可調節(jié)偏光裝置。
微分干涉DIC：主機內含有可調節(jié)微分干涉DIC裝置，使觀察更清晰，具有更強的立體感和調焦功能。
工作原理
導電粒子顯微鏡是利用電子束在樣品表面掃描激發(fā)出來代表樣品表面特征的信號成像的。主要用來作微形貌觀察、顯微成分分析。分辨率可達到1nm，放大倍數可達5×105倍。
導電粒子顯微鏡特點
(1)掃描電鏡所用樣品的制備方法簡便(固定、干燥和噴金)，不需經過超薄切片；
(2)能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(3)掃描電鏡所觀察到圖像景深長，圖像富有立體感；掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(4)圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。圖像的放大倍率在很大范圍內連續(xù)可變(101-105×)，分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(5)樣品的輻射損傷及污染程度小等。
導電粒子顯微鏡局限性
(1)分辨率還不夠高(1-10nm)；
(2)只能顯示樣品的表面形貌，無法顯示內部詳細結構。

產品名稱：導電粒子金相顯微鏡
產品型號：PZ- M-100DIC
產品簡介：M-100DIC型微分干涉數碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用優(yōu)良的無限遠光學成像系統，內置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現了目視觀察的真實還原，以及數碼攝影與顯微成像的技術融合，觀察到的干涉圖像具有更強的立體感，適合于非透明材質的表面形態(tài)觀察，如液晶屏導電粒子的顯微形態(tài)。是精密制造領域內品質檢測、結構研究的理想儀器。 
性能特點 
★ 產品采用無限遠光學成像系統，可選擇5X、10X、20X等長工作距離平場消色差無應力物鏡，匹配相應的微分 干涉（DIC插板）進行不同倍率的顯微觀察；
★ 照明系統采用高亮度、長工作時間的LED器件，具有結構緊湊、使用安全等特點，特別適合在線檢測的環(huán)境要求；
★采用立柱式高度調整方式，觀察樣品的厚度范圍更大.