1、使用偏振光確認(rèn)磨屑顆粒的優(yōu)勢(shì)

合適的軟件使用戶能夠輕松地區(qū)分金屬和非金屬顆粒。

很多標(biāo)準(zhǔn)，包括ISO 16232和ISO 4407，以及公司內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)，都要求能夠按照各種參數(shù)來區(qū)分磨屑顆粒。尤其重要的是區(qū)分金屬與非金屬顆粒。通過顯微鏡和清潔度分析軟件，技術(shù)人員就能夠有效地使用偏振光來區(qū)分金屬和非金屬顆粒，從而確定某個(gè)機(jī)械部件是否終已經(jīng)過度磨損或失效。

2、機(jī)械部件性能中磨屑顆粒分析的重要性

很多機(jī)械部件生產(chǎn)廠商面臨的問題是這些在部件生產(chǎn)加工后的顆粒殘留，或者是部件服役一段時(shí)間后而殘留的磨屑顆粒。殘留的磨屑顆粒尺寸大小可以從3 µm到1000 µm不等，并可能影響機(jī)械部件的運(yùn)行，還可能隨時(shí)間的推移加速部件的磨損。怎樣才能確定是否存在磨屑顆粒呢？

金屬顆粒示例：鋼鐵、氧化鋁、鑄鐵等。

現(xiàn)有的方案是用沖洗液對(duì)機(jī)械部件進(jìn)行沖洗，并收集含有顆粒的沖洗液。可以通過沖洗、加壓噴淋、超聲沖洗等方法實(shí)現(xiàn)顆粒收集。然后通過真空過濾將這些顆粒轉(zhuǎn)移到濾膜上，并在顯微鏡下觀察。濾膜經(jīng)顯微鏡放大成像，使得質(zhì)檢人員能夠?qū)V膜上的每個(gè)顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)，并分析其性質(zhì)，而隨附的軟件能夠?qū)崿F(xiàn)的顆粒分析功能，并把所有數(shù)據(jù)保記錄下來。在此情況下，關(guān)鍵的決定性因素是顆粒是否閃光發(fā)亮，這可以表明顆粒是金屬，還是非金屬。該因素的確定可以作為一個(gè)危險(xiǎn)信號(hào)，表示機(jī)械部件是否可能出現(xiàn)失效或過度磨損。

閃光發(fā)亮的或金屬的顆粒包括鋼、氧化鋁、鋁、鑄鐵、黃銅和純銅。暗色的或非金屬的顆粒包括煙灰、纖維、染料、油、橡膠和塑料。這些被稱為“軟顆粒”，不被認(rèn)為會(huì)導(dǎo)致機(jī)械部件故障，或隨時(shí)間推移而造成磨損。

3、軟件怎樣才能地進(jìn)行顆粒分析

現(xiàn)在的軟件能夠使操作者對(duì)直徑45 mm的整個(gè)標(biāo)準(zhǔn)濾片進(jìn)行顆粒的分析。特別是在偏振光照明時(shí)，濾片上的反光顆粒會(huì)被標(biāo)記為金屬，并與不反光的顆粒區(qū)別開來。

傳統(tǒng)雙掃描法

到目前為止，顆粒分析的數(shù)據(jù)需要對(duì)濾片進(jìn)行兩次掃描才能獲得。正交偏振光照明時(shí)，掃描濾片確認(rèn)總的顆粒數(shù)（所有的顆粒都呈暗黑色）。非偏振光照明時(shí)，二次掃描濾片區(qū)分反光和非反光顆粒。

單掃描技術(shù)

奧林巴斯CIX100清潔度分析系統(tǒng)，采用了創(chuàng)新的偏振光方法，其*的一體式掃描技術(shù)，單次掃描即可探測(cè)到反光（閃亮的和金屬光澤的）和非反光（暗黑的或非金屬光澤的）的顆粒。

這種單次掃描技術(shù)基于波長(zhǎng)分離和顏色探測(cè)，能夠提供非常的結(jié)果，檢測(cè)量可提高一倍。

電動(dòng)掃描臺(tái)上的濾紙經(jīng)自動(dòng)掃描后，探測(cè)的數(shù)據(jù)結(jié)果可保存到數(shù)據(jù)庫做為記錄。由于這種技術(shù)符合標(biāo)準(zhǔn)（比如ISO 16232和ISO 4407），以及/或公司標(biāo)準(zhǔn)，因此的機(jī)械部件生產(chǎn)廠商都已開始采用這種解決方案。

上述磨屑顆粒分析，尤其是判定金屬與非金屬顆粒，在汽車制造行業(yè)，以及重型裝備制造行業(yè)中尤其重要。它被用來確定是否存在污染物，以及是什么樣的污染物，并在生產(chǎn)過程中加強(qiáng)控制和維護(hù)。

部件的清潔度檢測(cè)是制造過程中的核心，特別是在汽車和航空工業(yè)中。

這里所說的軟件還可以用于分析流過機(jī)械部件的液壓流體、油和其它流體，以幫助確定這些流體中是否存在顆粒，以及它們對(duì)產(chǎn)品性能、摩擦、傳導(dǎo)和腐蝕的影響（軟件通常會(huì)集成到整個(gè)流體污染控制與調(diào)節(jié)系統(tǒng)里）。終，為了同一個(gè)目的—— 延長(zhǎng)機(jī)械部件的使用壽命。